提 供 商：
復納科學儀器（上海）有限公司資料大?。?/p>
圖片類型：
資料類型：
PDF下載次數：
264點擊下載：
文件下載詳細介紹：
背散射電子成像簡介
掃描電鏡成像主要是利用樣品表面的微區特征，如形貌、原子序數、晶體結構或位向等差異，在電子束作用下產生不同強度的物理信號，使熒光屏上不同的區域呈現出不同的亮度，從而獲得具有一定襯度的圖像。
當電子束和試樣表層發生作用時，會產生大量的背散射電子，這些背散射電子襯度包含三種信息：
1. 樣品表層形貌信息，凸起、尖銳和傾斜面的背散射電子多，探頭接收到的信號強，圖像較亮，即形貌襯度(topography contrast)；
2. 原子序數信息，原子序數越大，背散射電子越多，探頭接收到的信號越強，反映在圖像上就越亮，即原子序數襯度成像(Z-contrast)；
3. 晶體取向信息，背散射電子的強度取決于入射電子束與晶面的相對取向。晶體取向和入射電子束方向的改變均可導致BSE強度的改變(Electron channeling contrast，簡稱ECC，由此得到的襯度像簡稱ECCI)。
這篇文章主要講ECCI 的原理及應用。
傳真：
地址：上海市閔行區虹橋鎮申濱路 88 號上海虹橋麗寶廣場 T5，705 室
版權所有 © 2018 復納科學儀器（上海）有限公司 備案號：滬ICP備12015467號-2 管理登陸 技術支持：化工儀器網 GoogleSitemap
