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Focus On Microscopy 2016（FOM 2016）是一次顯微技術的年度會議。該會議不僅展示的顯微技術，而且還展示這些新技術在生物、醫(yī)藥和材料科學領域的應用。

會議時間：2016 年 3 月 20 日 - 23 日

會議地點：國立中國臺灣大學醫(yī)學院附設醫(yī)院

此次飛納臺式電鏡參加 FOM 2016，將在會上展示飛納臺式掃描電鏡大樣品室版 Phenom XL 和飛納臺式整合光電關聯(lián)顯微鏡 Delphi 德飛。

2015 年，飛納電鏡制造商荷蘭 Phenom-World 正式推出兩款性能的臺式電鏡，飛納臺式掃描電鏡大樣品室版 Phenom XL 和飛納臺式整合光電關聯(lián)顯微鏡 Delphi 德飛。新產品繼承了飛納臺式掃描電鏡*優(yōu)勢，例如采用高亮度的 CeB6 燈絲，顯著提升電鏡分辨率；快速抽真空；快速成像；彩色光學導航；全自動馬達樣品臺等。

同時拓展了其他功能，例如飛納臺式掃描電鏡大樣品室版 Phenom XL 電鏡腔室為 100 mm X 100 mm，一次可容納至少 36 個 1/2 英寸樣品臺；提供高、中、低三級真空，標配高靈敏度四分割背散射電子探測器，可以選配二次電子探測器。

飛納臺式整合光電關聯(lián)顯微鏡 Delphi 德飛通過熒光快速定位，電鏡高倍觀察，并在熒光圖像中疊加掃描電鏡圖像，實現(xiàn)在一張圖像中同時獲得樣品精細結構和功能物質信息。飛納臺式整合光電關聯(lián)顯微鏡 Delphi 德飛采用對射光路結構，無需轉移樣品，運用的圖像自動疊加，關聯(lián)。從樣品裝載到獲取光電關聯(lián)圖像的時間小于 3 分鐘。傳統(tǒng)的關聯(lián)技術是通過兩臺顯微鏡來實現(xiàn)的，德飛將兩種顯微鏡的功能集成到一臺顯微鏡中。

飛納臺式電鏡預祝 Focus On Microscopy 2016（FOM 2016）取得圓滿成功！